发明名称 压电性氧化物单晶之抑制带电处理方法及抑制带电处理装置
摘要 本发明系提供一种在无损害压电性之前提下,能够抑制钽酸锂单晶及铌酸锂单晶的带电之处理方法,以及能够易于实施该处理方法之处理装置。本发明之解决方式,系将由钽酸锂单晶或铌酸锂单晶制成之晶片50,及含有金属化合物之还原剂60收容至处理容器2中,将该处理容器2内部之压力降低,并且将其温度保持在200℃以上1000℃以下之状态,进行晶片还原处理。
申请公布号 TW200535284 申请公布日期 2005.11.01
申请号 TW094113247 申请日期 2005.04.26
申请人 山寿瑟拉密克斯股份有限公司 发明人 堀田和利;菅野和也;宫川大作;仓知雅人;俣武治;佐桥家隆
分类号 C30B29/30 主分类号 C30B29/30
代理机构 代理人 洪尧顺
主权项
地址 日本