半导体元件测试装置及其测试方法

摘要

本发明可藉由提供一种半导体元件测试装置，来测试一待测元件。根据本发明之测试装置包括：一对输入接脚，待测元件耦接至等输入接脚中之一者；一第一导线，系耦接于等输入接脚间；一第二导线，系耦接于等输入接脚间；一驱动器，经由一第三导线耦接至第一导线；以及一终端器，经由一第四导线耦接至第二导线。