发明名称 热分析方法、装置和程序,使用该方法的加热控制器以及加热炉
摘要 通过使用在目标测量点测量的温度(Tint和Ts)以及加热炉的测量位置处的加热温度(Ta)和加热时间(t),把在加热炉的任何测量位置处的目标的任何测量点的加热特性值确定为单个不变量。不用使用目标的物理特性就可以计算加热特性值(m值)。通过使用m值,在短时间期间内可模拟修改后加热条件下的被加热目标的温度曲线,而不需以很高的精度实际加热和测量目标的温度。通过使用这种模拟,可以容易确定用于根据所需加热条件加热目标的合适加热条件。
申请公布号 CN1672107A 申请公布日期 2005.09.21
申请号 CN03817665.3 申请日期 2003.07.30
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 野野村胜;矶端美伯;大西浩昭;谷口昌弘
分类号 G05D23/19 主分类号 G05D23/19
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 王玮
主权项 1、一种热分析方法,其中,通过使用在目标测量点测量的温度以及加热炉的测量位置处的加热温度和加热时间,把在加热炉的任何测量位置处的目标的任何测量点的加热特性确定为单个不变量,所述加热特性表示加热炉和将被加热的目标的物理特性。
地址 日本大阪府