发明名称 电检查装置
摘要 本发明提供一种电检查装置,用以利用检查探针(34;44)对任何类型的印刷板(11)来实施高精确的电检查,而不必改变其设备。其包括一参考位置调整构件(37),用以将该印刷板精确地定位在预定的参考位置处;以及一挤压构件(47),用以相反于该参考位置调整构件来挤压该印刷板。该印刷板的受检查部份(例如触点)系在张力下被固定,并且藉由该参考位置调整构件来接触和定位而于平面状态中精确地被置放于该参考位置处,藉此便可利用检查探针连同该参考位置调整构件及/或该挤压构件来对其进行电检查。因此,可以避免因不精确定位所产生的过大力量而造成该检查探针意外被破坏或损坏。
申请公布号 TWI238254 申请公布日期 2005.08.21
申请号 TW093101604 申请日期 2004.01.20
申请人 山叶泛提克股份有限公司 发明人 沟口保德;石井彻;土田宪吾
分类号 G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 1.一种电检查装置,其使用检查探针(34;44)来接触一印刷板(11)中至少一表面以实施电检查,该电检查装置包括:一参考位置调整构件(37;57),其可接触该印刷板之第一表面,藉此该印刷板便可固定在事先于法线方向中决定的参考位置处;以及一挤压构件(47;67;77),其可接触该印刷板中相反于该第一表面的第二表面,致使可将该印刷板支持于该参考位置调整构件和该挤压构件之间;其中该检查探针会接触该印刷板之规定部份,该部份不同于该参考位置调整构件和该印刷板产生接触的第一区域以及该挤压构件和该印刷板产生接触的第二区域。2.如申请专利范围第1项之电检查装置,其中该参考位置调整构件或该挤压构件配置至少一吸收构件。3.如申请专利范围第1项之电检查装置,其中相对于该印刷板,将该检查探针排列在伴随该参考位置调整构件或该挤压构件的方向中。4.如申请专利范围第1项之电检查装置,其中针对该印刷板相对于该参考位置调整构件及该挤压构件两者来排列复数根检查探针。5.如申请专利范围第1至4项中任一项之电检查装置,其中该挤压构件可于接触该印刷板时界定该参考位置,该印刷板可于接触该参考位置调整构件时于正确位置中进行调整。6.如申请专利范围第1项之电检查装置,其中于该参考位置调整构件的位置接触到该印刷板之第一表面的状态下,该检查探针会接触到该印刷板之第二表面,其接触位置不同于该挤压构件在其相对于该印刷板和该参考位置调整构件相反的区域内挤压该印刷板之第二表面的位置,从而实施电检查。7.如申请专利范围第1项之电检查装置,其中该参考位置调整构件具有一凿穿孔(37a),因此在该挤压构件挤压该印刷板之第二表面的状态下,该检查探针可透过该凿穿孔接触到该印刷板之第一表面,从而实施电检查。8.如申请专利范围第1项之电检查装置,其中该参考位置调整构件(37)及该挤压构件(47;77)中至少其中一者具有一凿穿孔(37a;47a;77a),该等凿穿孔允许让检查探针(34;44)刺入且接触该印刷板。9.如申请专利范围第1项之电检查装置,其中该参考位置调整构件(57)及该挤压构件(67)中至少其中一者具有一截断部份(57a;67a),该等截断部份允许让检查探针(34;44)刺入且接触该印刷板。10.如申请专利范围第1项之电检查装置,进一步包括一配有一检查探针(44)之上方侧侦测器(75)以及一配有一检查探针(34)之下方侧侦测器中至少其中一者,其中该上方侧侦测器包括:一下表面(77),其功能可作为该挤压构件;以及一孔(77a),其于该下表面中具有一开口,其中可安装该检查探针(44),而从该下表面之该开口中缩回,且其中该上方侧侦测器包括:一上表面,其功能可作为该参考位置调整构件;以及一孔,其于该上表面中具有一开口,其中可安装该检查探针(34),而从该上表面之该开口中缩回。图式简单说明:图1为根据本发明一较佳具体实施例之电检查装置之主要部件的简化图式;图2为该电检查装置之机械及电部件的平面图;图3为该电检查装置之各种部件的正面图;图4为该电检查装置中配置在被图3之虚线圆包围的特定部份内部的部件的放大图;图5为针对图1所示之构造作部份修改后之电检查装置之主要部件的简化图式;图6A为图5之电检查装置之规定部件的放大剖面图,该等规定部件系建立在复数个规定位置处以进行电检查;图6B为图5之电检查装置之规定部件的放大剖面图,其中一印刷板欲接受电检查;图7A为具有一凿穿孔之第一或第二固定构件的平面图,侦测器可刺入该凿穿孔;以及图7B为经过修改后用以提供一截断部份之第一或第二固定构件的平面图,侦测器可刺入该凿穿孔。
地址 日本
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