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发明名称 METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE OF HANDLER WHILE TESTING SEMICONDUCTOR DEVICES, RELATED TO STORING TEMPERATURE SETTING VALUE TO HANDLER AS LIBRARY
摘要
申请公布号 KR100499909(B1) 申请公布日期 2005.06.28
申请号 KR19980016734 申请日期 1998.05.11
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KIM, U JIN;KWAK, JU SEOK;CHOI, SANG YEONG;BANG, JEONG HO
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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