首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF PATTERNS
摘要
申请公布号 KR20050052805(A) 申请公布日期 2005.06.07
申请号 KR20030086368 申请日期 2003.12.01
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 LEE, CHANG HOON;LEE, BYUNG AM;AHN, BYUNG SEOL;CHO, JAE SUN;KIM, JOO WOO;LEE, SUNG MAN
分类号 G01N21/956;G06F15/00;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01N21/956
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com