发明名称 硬X射线全息干涉装置
摘要 一种硬X射线全息干涉装置,包括硬X射线同步辐射源,其特点是在该硬X射线出射方向轴对称地放置第一掠入射反射镜和第二掠入射反射镜,在该硬X射线方向,第一掠入射反射镜和第二掠入射反射镜之间放置一挡光板,经第一掠入射反射镜和第二掠入射反射镜反射的硬X射线方向放置一记录介质,各部件的位置关系如下:来自同步辐射源未被挡光板遮挡的硬X射线掠入射地照明第一掠入射反射镜和第二掠入射反射镜,从两反射镜出射以后,分成参考束和物束,物束经过待测样品以后和参考束重叠,在记录介质上发生干涉。利用本发明装置经过两次曝光,一次有待测样品,另一次无待测样品,获得硬X射线全息图,用计算机重构这张全息图可获得待测样品的位相信息。
申请公布号 CN1609731A 申请公布日期 2005.04.27
申请号 CN200410084254.2 申请日期 2004.11.17
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 陈建文;高鸿奕;李儒新;徐至展
分类号 G03H3/00;G01B9/02 主分类号 G03H3/00
代理机构 上海新天专利代理有限公司 代理人 张泽纯
主权项 1、一种硬X射线全息干涉装置,包括硬X射线同步辐射源(1),其特征在于在该硬X射线出射方向轴对称地放置第一掠入射反射镜(2)和第二掠入射反射镜(3),在该硬X射线方向,第一掠入射反射镜(2)和第二掠入射反射镜(3)之间放置一挡光板(4),经第一掠入射反射镜(2)和第二掠入射反射镜(3)反射的硬X射线方向放置一记录介质(6),各部件的位置关系如下:来自同步辐射源(1)未被挡光板(4)遮挡的硬X射线掠入射地照明第一掠入射反射镜(2)和第二掠入射反射镜(3),从两反射镜出射以后,分成参考束和物束,物束经过待测样品(5)以后和参考束重叠,在记录介质(6)上发生干涉。
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