发明名称 | 记忆体闸极结构之制造方法 | ||
摘要 | 一种制造记忆体闸极结构之方法,包含步骤系提供基底;于该基底表面形成多个闸极,各闸极包含一金属层;于该基底表面及闸极上形成预定图案之光阻层,以于闸极间选择性形成开孔;移除该闸极金属层邻近开孔之部分;移除光阻层;以及在闸极侧面形成一绝缘层。 | ||
申请公布号 | TW200512890 | 申请公布日期 | 2005.04.01 |
申请号 | TW092126923 | 申请日期 | 2003.09.30 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 管式凡;吴国坚 |
分类号 | H01L21/8242 | 主分类号 | H01L21/8242 |
代理机构 | 代理人 | 黄庆源 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |