发明名称 记忆体闸极结构之制造方法
摘要 一种制造记忆体闸极结构之方法,包含步骤系提供基底;于该基底表面形成多个闸极,各闸极包含一金属层;于该基底表面及闸极上形成预定图案之光阻层,以于闸极间选择性形成开孔;移除该闸极金属层邻近开孔之部分;移除光阻层;以及在闸极侧面形成一绝缘层。
申请公布号 TW200512890 申请公布日期 2005.04.01
申请号 TW092126923 申请日期 2003.09.30
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 管式凡;吴国坚
分类号 H01L21/8242 主分类号 H01L21/8242
代理机构 代理人 黄庆源
主权项
地址 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号