| 发明名称 |
Verfahren zur Qualitätsbestimmung von Kristallen |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE10307423(B4) |
申请公布日期 |
2005.03.24 |
| 申请号 |
DE20031007423 |
申请日期 |
2003.02.21 |
| 申请人 |
SCHOTT AG |
发明人 |
LETZ, MARTIN;PARTHIER, LUTZ |
| 分类号 |
G01N23/203;(IPC1-7):G01N21/41;G01N21/896 |
主分类号 |
G01N23/203 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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