积体电路的测试方法及装置

摘要

本发明揭示一种用于半导体测试系统、诸如自动化测试设备(ATE)之分散式作业系统。该作业系统包含一主作业系统，其能够藉着一系统控制器控制一或多位址控制器。一或多局部作业系统，每一局部作业系统与一位址控制器结合，用以能够藉着一相结合之位址控制器控制一或多测试模组。每一测试模组于一测试位址在一对应待测装置上施行测试。