发明名称 | 分析图象纹理的装置及其方法 | ||
摘要 | 提供一种用于分析图象纹理信息的装置及其方法。分析图象纹理信息的装置包括:用于利用具有不同过滤系数的各过滤器过滤包含M行×N列的多个象素的静止图象的过滤单元;用于关于经过滤的多个图象,对每行计算一行N个象素的灰度级平均值的X轴投影器;和用于关于经过滤的多个图象,对每列计算一列M个象素的灰度级平均值的Y轴投影器。可能在提取纹理信息中描述纹理的取向和周期性。 | ||
申请公布号 | CN1187714C | 申请公布日期 | 2005.02.02 |
申请号 | CN00803530.X | 申请日期 | 2000.03.13 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 申铉枓;崔良林 |
分类号 | G06T7/00 | 主分类号 | G06T7/00 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马莹 |
主权项 | 1.一种在接收图象后分析图象纹理信息的装置,包括:过滤单元,用于使用具有不同过滤系数的过滤器过滤具有M行xN列的多个象素的静止图象,该过滤单元输出多个图象;X轴投影装置,用于对经过滤的多个图象的每行,计算一行N个象素的灰度级平均值;和Y轴投影装置,用于对经过滤的多个图象的每列,计算一列M个象素的灰度级平均值;图形发生装置,用于对多个经过滤的图象,从X轴投影装置和Y轴投影装置输出的灰度级平均值,产生表示灰度级平均值趋势的图形;图形存储装置,用于存储各个图形;和纹理信息分析装置,用于利用各个图形分析图象的纹理信息。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |