| 主权项 |
1.一种加速半导体产品检测速度之方法,至少包含:输入一段测试资料予一待测品以获得一段反应资料;运算该反应资料以获得一讯息摘要;以及将该讯息摘要与一参考摘要比对,以决定该反应资料是否正确。2.如申请专利范围第1项所述加速半导体产品检测速度之方法,前述讯息摘要系由单向杂凑函数(One-way hash function)运算而得。3.如申请专利范围第2项所述加速半导体产品检测速度之方法,前述杂凑函数(hash function)系为SHA-1。4.如申请专利范围第2项所述加速半导体产品检测速度之方法,前述杂凑函数(hash function)系为MD5。5.如申请专利范围第2项所述加速半导体产品检测速度之方法,该参考摘要之建立系包含有以下步骤:将前述测试资料输入至一与待测品相同规格之样品,该样品系已确定正确无误;以及将该样品之反应资料经过杂凑函数运算后,取得参考摘要。6.如申请专利范围第2项所述加速半导体产品检测速度之方法,该参考摘要系采电脑模拟方式产生;系将测试资料输入至模拟该待测品的模拟电路后,由电脑中获得正确的反应资料,再根据此反应资料运算取得参考摘要。7.一种半导体产品的检测系统,系包含有:一测试装置,系输出一测试资料予一待测品,令该待测品据此输出一反应资料;以及一杂凑函数运算单元,对该反应资料进行一杂凑函数运算以产生一讯息摘要;其中,该讯息摘要供一参考摘要比对,以决定该反应资料是否正确。8.如申请专利范围第7项所述半导体产品的检测系统,该杂凑函数运算为SHA-1。9.如申请专利范围第7项所述半导体产品的检测系统,该杂凑函数运算为MD5。10.如申请专利范围第7项所述半导体产品的检测系统,该杂凑函数运算单元系内建于该测试装置内。11.如申请专利范围第7项所述半导体产品的检测系统,该杂凑函数运算单元系内建于该待测品内。12.如申请专利范围第8、9、10或11项所述半导体产品的检测系统,该杂凑函数运算单元为一硬体电路。图式简单说明:第一图:系本发明之方法示意图。第二图:系本发明之系统一实施例之示意图。第三图:系本发明之系统另一实施例之示意图。第四图:系本发明之系统又一实施例之示意图。第五图:系习用测试系统之示意图。 |
