发明名称 |
SYSTEMES ET PROCEDES POUR ANALYSER UNE ANORMALITE D'UN OBJET |
摘要 |
<P>Dans une forme de réalisation, un procédé pour analyser au moins une anormalité d'un objet est décrit. Le procédé comprend les étapes consistant à obtenir (130) une première image contenant une anormalité en utilisant une première modalité, obtenir (132) une deuxième image contenant l'anormalité en utilisant une deuxième modalité, sélectionner une première région d'intérêt incluse dans la première image, déterminer (136) une dimension anatomique de l'anormalité d'après la première région d'intérêt dans la première image, et déterminer (140) une activité métabolique relative d'après une deuxième région d'intérêt incluse dans la deuxième image.</P> |
申请公布号 |
FR2857129(A1) |
申请公布日期 |
2005.01.07 |
申请号 |
FR20040007095 |
申请日期 |
2004.06.29 |
申请人 |
GE MEDICAL SYSTEMS GLOBAL TECHNOLOGY COMPANY, LLC. |
发明人 |
HERTEL SARAH ROSE;FOX STANLEY H;GANIN ALEXANDER;STEARNS CHARLES WILLIAM |
分类号 |
G01T1/161;A61B6/03;G06T1/00;G06T7/00 |
主分类号 |
G01T1/161 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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