发明名称 | 测试装置 | ||
摘要 | 一种进行电子元件之测试的测试装置,其具备有:测试模组,进行与电子元件之测试讯号的收发;测试头,具有能够装卸的保持测试模组的多个TH槽;诊断模组,进行测试模组之诊断;连接装置,分别与多个TH槽电性连接,且具有能够装卸的保持诊断模组的多个PB槽。在设定的PB槽中所保持之设定的诊断模组可诊断与设定的PB槽电性连接之设定的TH槽中所保持之设定的测试模组。 | ||
申请公布号 | TW200428006 | 申请公布日期 | 2004.12.16 |
申请号 | TW093107729 | 申请日期 | 2004.03.23 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 涉谷敦章 |
分类号 | G01R31/28 | 主分类号 | G01R31/28 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |