发明名称 测试装置
摘要 一种进行电子元件之测试的测试装置,其具备有:测试模组,进行与电子元件之测试讯号的收发;测试头,具有能够装卸的保持测试模组的多个TH槽;诊断模组,进行测试模组之诊断;连接装置,分别与多个TH槽电性连接,且具有能够装卸的保持诊断模组的多个PB槽。在设定的PB槽中所保持之设定的诊断模组可诊断与设定的PB槽电性连接之设定的TH槽中所保持之设定的测试模组。
申请公布号 TW200428006 申请公布日期 2004.12.16
申请号 TW093107729 申请日期 2004.03.23
申请人 爱德万测试股份有限公司 发明人 涉谷敦章
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 日本