| 摘要 |
Zur Unterscheidung mehrerer Meßbereiche ist auf einem Maßstab (1) eine Bezugsspur (5) mit einem kontinuierlich transparenten Feldbereich (5.1) und einem kontinuierlich opaken Feldbereich (5.1) in Meßrichtung (X) hintereinander angeordnet. Am Übergangsbereich der beiden Feldbereiche (5.1, 5.2) ist ein Muster (6) vorgesehen, das von einem Muster (7) einer Abtasteinheit (2) abgetastet wird. Die Muster (6, 7) sind derart aufeinander abgestimmt, daß von der Abtasteinheit (2) ein Abtastsignal (A1) erzeugt wird, mit dem die Meßbereiche eindeutig unterscheidbar sind, und am Übergangsbereich ein Referenzmarkensignal zur hochgenauen Bestimmung einer Bezugsposition (B) abgeleitet wird <IMAGE>
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