| 发明名称 | 利用投射干涉条纹及评价绝对相位映射的三维成像 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种计算物表面上一组点的三维表面坐标的方法。本方法包括如下步骤：用投影器以一组条纹把物照明；调整条纹；以不同条纹相位设置，用摄像机拍摄该表面的多帧像；处理这些像，产生该表面既被投影器照明，对摄像机也可见的各部分的绝对条纹相位图；处理条纹相位图，给出物表面上各点的一组坐标。本方法利用基于修改的Carré技术的时间相位测量干涉仪(TPMI)，提供表面的轮廓描绘和测距。 | ||
| 申请公布号 | CN1551974A | 申请公布日期 | 2004.12.01 |
| 申请号 | CN02817385.6 | 申请日期 | 2002.08.06 |
| 申请人 | 南岸大学企业有限公司 | 发明人 | 贝弗利·T·麦吉特;约汉·H·库伯;陈世平 |
| 分类号 | G01B11/24;G01B11/25;G01B9/02;G01B11/30 | 主分类号 | G01B11/24 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 蒋世迅 |
| 主权项 | 1.一种计算物表面一组点的三维表面坐标的方法，本方法包括：以一组条纹把物照明；调整这些条纹；以不同条纹相位设置，用摄像机拍摄该表面的多帧像；处理这些像，产生该表面既被投影器照明，对摄像机也可见的各部分的绝对条纹相位图；处理条纹相位图，给出物表面各点的一组坐标。 | ||
| 地址 | 英国伦敦 | ||