发明名称 Verfahren zur Ausbildung einer Öffnung für einen Kontakt in einem Halbleiterbauelement
摘要 Eine Ätzrate einer Nitrid-Linerschicht wird in Bezug auf eine Ätzrate einer Nitrid-Kappenschicht verbessert. Die Nitrid-Linerschicht wird an einem freiliegenden Abschnitt eines Substrats benachbart zu einer Stapelstruktur angeordnet, welche ebenfalls auf dem Substrat angeordnet ist. Die Nitrid-Kappenschicht wird auf der Stapelstruktur angeordnet. Eine Oxid-Abstandsschicht wird entlang von Seitenwänden der Stapelstruktur ausgebildet. Die Nitrid-Linerschicht wird strukturiert und geätzt, um zumindest eine Öffnung darin zum Substrat auszubilden, während die Nitrid-Kappenschicht im Wesentlichen unversehrt bleibt.
申请公布号 DE102004016705(A1) 申请公布日期 2004.11.25
申请号 DE20041016705 申请日期 2004.04.05
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP., ARMONK;INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 YU, CHIENFAN;RUPP, THOMAS;DOBUZINSKI, DAVID M.;DEV, PRAKASH C.;RENGARAJAN, RAJESH;NAEEM, MUNIR-UD-DIN;BENEDICT, JOHN;FALTERMEIER, JOHNATHAN E.;MALDEI, MICHAEL
分类号 H01L21/311;H01L21/60;H01L21/8242;H01L23/485;(IPC1-7):H01L21/283 主分类号 H01L21/311
代理机构 代理人
主权项
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