Verfahren zur Ausbildung einer Öffnung für einen Kontakt in einem Halbleiterbauelement
摘要
Eine Ätzrate einer Nitrid-Linerschicht wird in Bezug auf eine Ätzrate einer Nitrid-Kappenschicht verbessert. Die Nitrid-Linerschicht wird an einem freiliegenden Abschnitt eines Substrats benachbart zu einer Stapelstruktur angeordnet, welche ebenfalls auf dem Substrat angeordnet ist. Die Nitrid-Kappenschicht wird auf der Stapelstruktur angeordnet. Eine Oxid-Abstandsschicht wird entlang von Seitenwänden der Stapelstruktur ausgebildet. Die Nitrid-Linerschicht wird strukturiert und geätzt, um zumindest eine Öffnung darin zum Substrat auszubilden, während die Nitrid-Kappenschicht im Wesentlichen unversehrt bleibt.
申请公布号
DE102004016705(A1)
申请公布日期
2004.11.25
申请号
DE20041016705
申请日期
2004.04.05
申请人
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP., ARMONK;INFINEON TECHNOLOGIES AG
发明人
YU, CHIENFAN;RUPP, THOMAS;DOBUZINSKI, DAVID M.;DEV, PRAKASH C.;RENGARAJAN, RAJESH;NAEEM, MUNIR-UD-DIN;BENEDICT, JOHN;FALTERMEIER, JOHNATHAN E.;MALDEI, MICHAEL