集成电路测试卡

摘要

本实用新型揭示一种集成电路测试卡，包含一电路板及若干根探针。该电路板是由若干层积层板构成，具有一上表面和一下表面，且包含若干个以一第二间距设置在该上表面的测试接点以及可包含若干个设置在该上表面用以处理信号的电子元件。其中该若干个测试接点借由若干个导电通路电气连接至该下表面。该若干根探针是以一第一间距设置且电气连接该电路板下表面的导电通路，其中该第一间距小于该第二间距。

主权项

1.一种集成电路测试卡，其特征在于：所述集成电路测试卡包含：一电路板，由若干层积层板构成，具有一上表面和一下表面，所述电路板包含：若干个测试接点，以一第二间距设置在所述上表面，可直接与一测试仪器电气连接；及若干个导电通路，设置在所述电路板内部，用于将该若干个测试接点电气连接至该下表面；以及若干个探针，其以一第一间距设置且电气连接该若干个导电通路，其中所述第一间距小于该第二间距。