发明名称 基板之光检测装置
摘要 一种基板之光检测装置,系用以提供在最佳的光学条件下以检测大尺寸基板的表面,其包括有复数个反射镜,系分别用以反射自复数个光源所发出的光线,且光源系在一曲面上作上下左右至少一方向的位移;以及复数个菲涅尔透镜,用以将自反射镜所反射出的发散光线聚焦至一焦点,并照亮在平台上的基板,从而简化光检测装置的位移结构,同时透过复数个光线照亮大尺寸基板上的大面积,即可令使用者在不需移动焦点的情况下,以一固定焦点检测基板。
申请公布号 TW200424510 申请公布日期 2004.11.16
申请号 TW092124874 申请日期 2003.09.09
申请人 DE&T股份有限公司 发明人 南宫墣;朴昌铉;基先;沈在信;金炫秀
分类号 G01N21/27;G01B11/30;G01J3/50;G01N21/57;G01N21/88 主分类号 G01N21/27
代理机构 代理人 许世正
主权项
地址 韩国