发明名称 Struktur und Verfahren zur verbesserten Isolation in Grabenspeicherzellen
摘要 Es werden eine Grabenkondensatorstruktur zur verbesserten Ladungshaltung und ein Verfahren zu dessen Herstellung bereitgestellt. Ein Graben wird in einem p-leitenden Halbleitersubstrat ausgebildet. Ein Isolationskragen liegt in einem oberen Teil des Grabens. Das Substrat neben dem oberen Teil des Grabens enthält ein erstes n·+·-leitendes Gebiet und ein zweites n·+·-leitendes Gebiet. Diese Gebiete stoßen jeweils an eine Wand des Grabens an und sind durch einen Teil des p-leitenden Halbleitersubstrats vertikal voneinander getrennt. Ein den Umfang des Grabens umgebender Hohlraum ist in der Wand des Grabens ausgebildet und liegt in dem Substrat zwischen dem ersten und zweiten n·+·-leitenden Gebiet.
申请公布号 DE10214743(A1) 申请公布日期 2004.11.04
申请号 DE20021014743 申请日期 2002.04.03
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES NORTH AMERICA CORP., SAN JOSE;INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP., ARMONK 发明人 KNORR, ANDREAS;KUDELKA, STEPHAN;MANDELMAN, JACK;RAHN, STEPHAN;TEWS, HELMUT;WISE, MICHAEL
分类号 H01L21/8242;H01L29/94;(IPC1-7):H01L27/108;H01L21/824 主分类号 H01L21/8242
代理机构 代理人
主权项
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