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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material, bei dem mit einer ersten Strahlungsquelle ein definiertes Teilvolumen des Materials bestrahlt wird und bei dem mit einer zweiten Strahlungsquelle derart Licht in das Material eingekoppelt wird, dass der Lichtweg im besagten Teilvolumen ausschließlich im Inneren des Materials verläuft und bei dem ein Fehler im Teilvolumen dadurch erkannt wird, dass DOLLAR A a) sowohl vom Fehler gestreutes Licht oder DOLLAR A b) die vom Fehler hervorgerufene Absorption im Hellfeld und/oder DOLLAR A c) die vom Fehler hervorgerufene Ablenkung des Lichts der ersten Strahlungsquelle DOLLAR A detektiert wird. DOLLAR A Weiterhin betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material, mit einer ersten Strahlungsquelle zur Beleuchtung eines definierten Teilvolumens des transparenten Materials, mit einem Detektor zur Erfassung des vom besagten Teilvolumen herrührenden Lichts und mit einer zweiten Strahlungsquelle, die derart zum Material angeordnet ist, dass im besagten Teilvolumen der zugehörige Lichtweg ausschließlich im Inneren des Materials verläuft.
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