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发明名称
Erfassung von Strahldüsenfehlern durch optisches Abtasten eines Probemusters
摘要
申请公布号
DE69810526(T9)
申请公布日期
2004.10.14
申请号
DE19986010526T
申请日期
1998.03.03
申请人
HEWLETT-PACKARD CO. (N.D.GES.D.STAATES DELAWARE), PALO ALTO
发明人
ARMIJO, CHRIS T.;GASTON, GONZALO;LAGARES, JAVIER;GIL, ANTONI;GUERRERO, FRANCISCO;SUBIRADA, FRANCESC
分类号
B41J2/01;B41J2/165;(IPC1-7):B41J2/165
主分类号
B41J2/01
代理机构
代理人
主权项
地址
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