发明名称 Mantelflächensensor sowie Abbildungsoptik hierfür
摘要 Die vorliegende Erfindung betrifft eine Abbildungsoptik für das Abbilden der umlaufenden Seitenflächen (9) eines Objektes (10) auf eine Abbildungsebene mit einem reflektierenden Element (6) und einem in Strahlrichtung hinter dem reflektierenden Element angeordneten ersten winkelreduzierenden Element (3, 17), das den Winkel zwischen einem von dem Objekt (10) ausgehenden Lichtstrahl und der optischen Achse (12) reduziert. Um eine Abbildungsoptik für die Abbildung der umlaufenden Seitenflächen von Objekten zu schaffen, die sowohl einfach und kostengünstig zu fertigen ist als auch einen großen Akzeptanzwinkel für die einfallende Strahlung aufweist und die tolerant gegenüber einer ungenauen Positionierung des Objekts ist, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, daß in Strahlrichtung vor dem reflektierenden Element (6) ein zweites winkelreduzierendes Element (13) angeordnet ist, das den Winkel zwischen einem von dem Objekt (10) ausgehenden Lichtstrahl (11) und der optischen Achse (12) reduziert.
申请公布号 DE10312051(A1) 申请公布日期 2004.09.30
申请号 DE2003112051 申请日期 2003.03.18
申请人 VITRONIC DR.-ING. STEIN BILDVERARBEITUNGSSYSTEME GMBH 发明人 LEHN, NORBERT;SCHUMACHER, MARTIN
分类号 G01N21/88;G01N21/89;G01N21/952;(IPC1-7):G01M11/08;G01B11/30 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
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