发明名称 |
可兼容不同厚度光记录介质的光学头装置 |
摘要 |
一种可兼容不同厚度光记录介质的光学头装置,包括:发射具有第一波长激光束的第一光源和用于发射具有第二波长激光束的第二光源,第一波长不等于第二波长;具有预定焦距的物镜,将光源发射的光聚焦于光记录介质的信息记录面上;光探测装置,接收由信息记录面上反射并通过物镜的光;光程控制装置,将光源发射的光引向物镜,并将在光记录介质的信息记录表面上反射后经物镜出射的光引向光检测装置;及移相装置,位于光程控制装置及物镜之间,用于根据入射光的波长将所透过的光移相。 |
申请公布号 |
CN1162849C |
申请公布日期 |
2004.08.18 |
申请号 |
CN01121405.8 |
申请日期 |
1997.08.29 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
刘长勋;李哲雨;郑钟三;成平庸;赵虔皓;崔显燮;李庸勋;金泰敬;朴鲁京 |
分类号 |
G11B7/12;G11B7/135;G02F1/29 |
主分类号 |
G11B7/12 |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
李晓舒 |
主权项 |
1.一种可兼容不同厚度光记录介质的光学头装置,其特征在于所述装置包括:用于发射具有第一波长激光束的第一光源和用于发射具有第二波长激光束的第二光源,第一波长不等于第二波长;具有预定焦距的物镜,用于将光源发射的光聚焦于所述光记录介质的信息记录面上;光探测装置,用于接收由上述信息记录面上反射并通过物镜的光;光程控制装置,用于将所述光源发射的光引向物镜,并将在所述光记录介质的信息记录表面上反射后经物镜出射的光引向所述光检测装置;及移相装置,位于所述的光程控制装置及物镜之间,用于根据入射光的波长将所透过的光移相。 |
地址 |
韩国京畿道 |