发明名称 双栅极晶体管及其制造方法
摘要 本发明公开了一种双栅极晶体管及其制造方法,该双栅极晶体管提供了改善的器件性能和密度。本发明的优选实施例使用为双栅极晶体管设置非对称栅极掺杂,其中双栅极中的一个渐弱地掺杂为n型,而另一个渐弱地掺杂为p型。通过将栅极中的一个掺杂为n型,并将另一个掺杂为p型,所得器件的阈值电压得到了改善。具体而言,通过非对称地掺杂两个栅极,所得的晶体管可以在适当地掺杂基体的情况下,具有在能够进行低压CMOS操作的范围内的阈值电压。例如,可形成对于nFET阈值电压是在0V至0.5V之间而对于pFET是在0至-0.5V之间的晶体管。
申请公布号 CN1518772A 申请公布日期 2004.08.04
申请号 CN02812298.4 申请日期 2002.06.06
申请人 国际商业机器公司 发明人 安德烈亚斯·布赖恩特;米凯·耶昂;K·保罗·马勒;爱德华·J·诺瓦克;戴维·M·弗里德;杰德·兰金
分类号 H01L29/49;H01L29/786;H01L21/28;H01L21/336 主分类号 H01L29/49
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波;侯宇
主权项 1.一种形成晶体管的方法,该方法包括:a)设置半导体衬底;b)构图半导体衬底,从而设置第一基体边缘;c)邻近所述第一基体边缘设置第一费米能级的第一栅极结构;d)构图半导体衬底,从而设置第一基体边缘,半导体衬底的第一和第二基体边缘限定了晶体管的基体;以及e)邻近所述第二基体边缘设置第二费米能级的第二栅极结构。
地址 美国纽约州