System und Verfahren zum Testen eines Schaltungsaufbaus unter Verwendung einer extern erzeugten Signatur

摘要

Ein System und ein Verfahren ermöglichen ein Testen eines Schaltungsaufbaus unter Verwendung einer extern erzeugten Signatur. Eine externe Testeinrichtung ist außerhalb eines DUT angeordnet. Eine solche externe Testeinrichtung ist betreibbar, um Testdaten in das DUT einzugeben, Ausgabedaten von dem DUT zu empfangen und um eine Signatur für zumindest einen Abschnitt von solchen empfangenen Ausgabedaten zu erzeugen. Die externe Testeinrichtung vergleicht die erzeugte Signatur mit einer erwarteten Signatur, um zu bestimmen, ob das DUT wie erwartet funktioniert. Wenn die erzeugte Signatur nicht mit einer erwarteten Signatur übereinstimmt, dann können die Fehlerdaten in ein Fehlerabbildungsprotokoll geschrieben werden. Vorzugsweise ist eine weitere Interaktion mit dem DUT nicht erforderlich, nachem erfaßt worden ist, daß eine erzeugte Signatur nicht mit einer erwarteten Signatur übereinstimmt, um eine solche Fehlerauswertung auszuführen. Somit kann die Fehlerauswertung gleichzeitig mit dem Testen des DUT ausgeführt werden. Die Maskendaten können in einer komprimierten Form gespeichert sein und dekomprimiert und zum Maskieren bestimmter nichtdeterministischer Ausgabebits beim Erzeugen der Signatur verwendet werden.