| 发明名称 |
Circuit with logic circuit for temperature dependant semi-conductor element test and repair |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1008858(B1) |
申请公布日期 |
2004.07.14 |
| 申请号 |
EP19990122485 |
申请日期 |
1999.11.11 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
MCCONNELL, RODERICK, DR.;RICHTER, DETLEV |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/30;G11C29/04;G11C29/12;(IPC1-7):G01R31/30;G01R31/316;G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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