| 主权项 |
1.一种用来转换取样频率之装置,该装置包含:一杂讯整形器,接收一数位输入讯号,将该数位输入讯号转换输出为一杂讯整形后之一n位元数位讯号,其中该数位输入讯号具有一第一取样频率;以及一取样频率转换器,系电连接该杂讯整形器,接收该n位元数位讯号,并输出一数位输出讯号,该数位输出讯号具有一第二取样频率;其中该第一取样频率与该第二取样频率不相同。2.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该第一取样频率与该第二取样频率之比値为一非整数値。3.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该n位元数位讯号为一1位元数位讯号。4.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该杂讯整形器包括一delta-sigma调变器。5.如申请专利范围第1项所述之装置,其中该取样频率转换器包含一唯读记忆体(ROM),并以查表方法实施频率转换。6.一种数位-类比转换装置,包含:一取样频率转换单元,系接收一数位输入讯号,并输出一数位输出讯号,该数位输入讯号具有一第一取样频率,该数位输出讯号具有一第二取样频率,包括:一第一杂讯整形器,系接收该数位输入讯号,并转换输出为一n位元数位讯号;及一取样频率转换器,系电连接该第一杂讯整形器,接收该n位元数位讯号,并输出该数位输出讯号;一数位-类比转换单元,系接收该数位输出讯号,并输出一类比讯号,包括:一第二杂讯整形器,系接收该数位输出讯号,并输出为一m位元数位讯号;及一数位-类比转换器,系电连接该第二杂讯整形器,接收该m位元数位讯号,并转换输出一类比讯号;其中该第一取样频率与该第二取样频率不相同。7.如申请专利范围第6项所述之装置,还包括一数位合成器,系连接于该取样频率转换单元与该数位-类比转换单元之间,将具有该第二取样频率之一第二数位输出讯号与该数位输出讯号合成,输出至该数位-类比转换单元。8.如申请专利范围第7项所述之装置,其中,该一第二数位输出讯号来自一第一取样频率转换器。9.如申请专利范围第6项所述之装置,还包括一第二取样频率转换器,系与取样频率转换单元相耦接,用以输出该数位输入讯号。10.如申请专利范围第6项所述之装置,其中该第一取样频率与该第二取样频率之比値为一非整数値。11.如申请专利范围第6项所述之装置,其中该n位元数位讯号为一1位元数位讯号。12.如申请专利范围第6项所述之装置,其中该m位元数位讯号为一1位元数位讯号。13.如申请专利范围第6项所述之装置,其中该第一杂讯整形器包括一delta-sigma调变器。14.如申请专利范围第6项所述之装置,其中该第二杂讯整形器包括一delta-sigma调变器。15.如申请专利范围第6项所述之装置,其中该取样频率转换器包含一唯读记忆体(ROM),并以查表方法实施频率转换。16.一种用来转换取样频率之方法,包含:接收一数位输入讯号,该数位输入讯号具有一第一取样频率;将该数位输入讯号进行杂讯整形,输出为一n位元数位讯号;以及将接收到之该n位元数位讯号进行取样频率转换,并输出一数位输出讯号,该数位输出讯号具有一第二取样频率;其中该第一取样频率与该第二取样频率不相同。17.如申请专利范围第16项所述之方法,其中该第一取样频率与该第二取样频率之比値为一非整数値。18.如申请专利范围第16项所述之方法,其中该n位元数位讯号为一1位元数位讯号。19.如申请专利范围第16项所述之方法,其中该杂讯整形步骤是一delta-sigma调变步骤。20.如申请专利范围第16项所述之方法,其中该取样频率转换步骤是以查表方法实施取样频率转换。图示简单说明:第一图(a)系习知一阶Delta-Sigma调变器;第一图(b)系习知二阶Delta-Sigma调变器;第二图(a)系习知弦波讯号经Delta-Sigma调变产生之输出波形示意图;第二图(b)系习知弦波讯号经Delta-Sigma调变产生之频谱分析示意图;第三图系习知过取样Delta-Sigma数位-类比转换器;第四图(a)系以类比之习知技术,将两个不同取样频率(Sample Rate)之数位讯号转换为类比讯号相加示意图;第四图(b),系以数位信号处理之习知技术,将两个不同取样频率之数位讯号相加之示意图;第五图(a)系本案实施例之取样频率转换器结构示意图;第五图(b)系本案应用实施例之过取样数位-类比转换器结构示意图;第六图(a)系非整数型取样频率转换器(SRC)示意图;第六图(b)系以数位信号处理之技术,进行非整数取样频率转换示意图;以及第七图系本案另一实施例之数位-类比转换器结构示意图。 |
