主权项 |
1.一种多孔质氮化矽陶瓷,其特征为: 相对密度不足70%,全气孔中闭气孔之比率为50%以上 ; 其任意断面中,相邻之2个空孔半径r1.r2与陶瓷部之 宽度b之间,具有(r1+r2)/b>1之关系;且 含有RE4Si2N2O7或RE10N2(SiO4)所示之氧氮化物或氧氮化 矽化合物结晶相,其中RE为Yb、Sm或Er。2.一种氮化 矽陶瓷电路基板,其特征为至少一部分之绝缘层系 包含如申请专利范围第1项所述之多孔质氮化矽陶 瓷材料。3.一种多孔质氮化矽陶瓷之制法,其特征 为将金属矽粉末与含有相当于金属矽粉末0.2~2.5mol %之Yb、Sm或Er中至少一种之化合物粉末,制作为成 形体后,在含有氮气之包围气雰中进行热处理。4. 如申请专利范围第3项之多孔质氮化矽陶瓷之制法 ,其中藉由以微波或毫米波照射下对上述成形体热 处理,而得包含中空化氮化矽陶瓷粒子之多孔质氮 化矽陶瓷。图式简单说明: 图1是本申请发明之多孔质陶瓷的断面组织模式图 。 图2是一向之多孔质陶瓷之断面组织模式图。 图3表示在本申请发明多孔质陶瓷之烧结过程,(a) 是成形状态,(b)是烧结初期状态,(c)是烧结完了状 态。 图4表示在本申请发明多孔质陶瓷之烧结过程中,1 个金属粒子之变化模式说明图,(a)是烧结前之状态 ,(b)是烧结初期状态,(c)是烧结进行状态,(d)是烧结 完了状态。 |