发明名称 |
METODO DE UTILIZACION PERMANENTE DE UN MATERIAL SEGUN UN EJE Z. |
摘要 |
LA PRESENTE INVENCION ESTA RELACIONADA CON UN SISTEMA Y UN METODO PARA REALIZAR EL EXAMEN DE FIABILIDAD DE LOS DISCOS DE SEMICONDUCTORES, Y PARTICULARMENTE, UN APARATO DE FRITADO MUY PLANO Y UN METODO PARA USARLO EN EL FRITADO NIVELADO DE DISCOS (WLBI), EL FRITADO DE MATRICES CUADRICULADAS (DDBI) Y EL FRITADO DE MATRICES EMPAQUETADAS (PDBI). EL SISTEMA DE FRITADO SE COMPONE DE UN SUSTRATO DE FRITADO DE BASE PLANA, UN MIEMBRO CONECTOR EN EL EJE Z TEMPORAL Y UNA HOJA DE CONTACTO NIVELADO DE DISCOS EN EL EJE Z CONECTADA ELECTRICAMENTE A OTRA PARA EXAMINAR DISCOS, MATRICES CUADRICULADAS, Y COMPONENTES ELECTRONICOS EMPAQUETADOS, SU MONTAJE Y USO. |
申请公布号 |
ES2207708(T3) |
申请公布日期 |
2004.06.01 |
申请号 |
ES19970308873T |
申请日期 |
1997.11.05 |
申请人 |
W.L. GORE & ASSOCIATES, INC. |
发明人 |
BUDNAITIS, JOHN J.;LEONG, JIMMY |
分类号 |
G01R31/26;G01R1/06;G01R1/067;G01R1/073;G01R31/28;H01L21/66;H01L23/32;H01L23/498;(IPC1-7):H01L23/498;H01L21/48;H01L23/538;G01R31/316 |
主分类号 |
G01R31/26 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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