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发明名称
形成用于高温氧化物处理之一保护性缓冲层的方法
摘要
形成一薄SiON缓冲层在浮置闸之上表面,以便保护多晶矽表面免于受到氯原子的破坏,该氯原子是在高温氧化形成ONO叠层时所产生的。该缓冲层亦可能在后续制程中遭受不利情况的其他介电层表面上形成,例如在该ONO介电叠层中之氮化物层。
申请公布号
TW200404339
申请公布日期
2004.03.16
申请号
TW092103341
申请日期
2003.02.18
申请人
台湾茂矽电子股份有限公司
发明人
董忠;章昌台
分类号
H01L21/31;H01L21/28;H01L21/8247
主分类号
H01L21/31
代理机构
代理人
李长铭
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区工业东四路九号二楼
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