发明名称 Strahlungsquellenpositions-Erfassungsverfahren, Strahlungsquellenpositions-Erfassungssystem, und Strahlungsquellenpositions-Erfassungssonde
摘要 Ein Strahlungsquellenpositions-Erfassungssystem wird bereitgestellt, bei dem drei Strahlungsdetektoren (20a, 20b, 20c) an unterschiedlichen Positionen angeordnet sind. Basierend auf auf jeden der Strahlungsdetektoren (20a, 20b, 20c) einfallenden Strahlungen werden gekrümmte Oberflächen (Ma, Mb, Mc) berechnet, auf denen eine Strahlungsquelle existiert. Durch simultanes Lösen jeder der gekrümmten Oberflächen (Ma, Mb, Mc), wird die Position der Strahlungsquelle erfasst.
申请公布号 DE10322712(A1) 申请公布日期 2004.03.04
申请号 DE2003122712 申请日期 2003.05.20
申请人 MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD.;THE DIRECTOR-GENERAL OF THE INSTITUTE OF SPACE AND ASTRONAUTICAL SCIENCE, SAGAMIHARA 发明人 KURODA, YOSHIKATU;MASUKO, RYOUICHI;TAKAHASHI, TADAYUKI;WATANABE, SHIN
分类号 G01T1/29;A61B6/00;A61B19/00;G01T1/169 主分类号 G01T1/29
代理机构 代理人
主权项
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