发明名称 |
Strahlungsquellenpositions-Erfassungsverfahren, Strahlungsquellenpositions-Erfassungssystem, und Strahlungsquellenpositions-Erfassungssonde |
摘要 |
Ein Strahlungsquellenpositions-Erfassungssystem wird bereitgestellt, bei dem drei Strahlungsdetektoren (20a, 20b, 20c) an unterschiedlichen Positionen angeordnet sind. Basierend auf auf jeden der Strahlungsdetektoren (20a, 20b, 20c) einfallenden Strahlungen werden gekrümmte Oberflächen (Ma, Mb, Mc) berechnet, auf denen eine Strahlungsquelle existiert. Durch simultanes Lösen jeder der gekrümmten Oberflächen (Ma, Mb, Mc), wird die Position der Strahlungsquelle erfasst. |
申请公布号 |
DE10322712(A1) |
申请公布日期 |
2004.03.04 |
申请号 |
DE2003122712 |
申请日期 |
2003.05.20 |
申请人 |
MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD.;THE DIRECTOR-GENERAL OF THE INSTITUTE OF SPACE AND ASTRONAUTICAL SCIENCE, SAGAMIHARA |
发明人 |
KURODA, YOSHIKATU;MASUKO, RYOUICHI;TAKAHASHI, TADAYUKI;WATANABE, SHIN |
分类号 |
G01T1/29;A61B6/00;A61B19/00;G01T1/169 |
主分类号 |
G01T1/29 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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