| 摘要 |
Für eine besonders flexible Ausgestaltung einer Anordnung zum Testen einer Mehrzahl von Halbleitereinrichtungen (20), für welche während des Testens die individuelle Stromaufnahme gemessen werden soll, ist individuell für jede Halbleitereinrichtung (20) eine Strommesseinrichtung (50) in Form einer Hallsensoreinrichtung (60) in einer individuellen Strom-/Spannungsversorgungsleitungseinrichtung (40f) mit einer gemeinsamen Strom-/Spannungsversorgungseinheit (30) ausgebildet.
|
