| 发明名称 | 检测径向倾斜的方法和设备 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种用于检测盘的径向倾斜的方法和装置。比较从由八分仪光电二极管的外部光接收单元接收的信号a1、b1、c1、和d1获得的相加信号a1+c1和b1+d1的相位以产生外部相位比较信号Do。比较从由八分仪光电二极管的内部光接收单元接收的信号a2、b2、c2、和d2获得的相加信号a2+c2和b2+d2的相位以产生内部相位比较信号Di。基于当激光束横过形成盘的轨道时获得的内部和外部相位比较信号Di和Do来检测径向倾斜。因此，能更加精确地检测径向倾斜。 | ||
| 申请公布号 | CN1469348A | 申请公布日期 | 2004.01.21 |
| 申请号 | CN03143057.0 | 申请日期 | 2003.06.18 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 马炳寅;金宽俊;朴仁植;崔炳浩 |
| 分类号 | G11B7/00;G11B7/12;G11B20/18 | 主分类号 | G11B7/00 |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 邸万奎;黄小临 |
| 主权项 | 1.一种检测盘的径向倾斜的方法，该方法包括：(a)比较从由八分仪光电二极管的外部光接收单元接收的信号a1、b1、c1、和d1获得的相加信号a1+c1和b1+d1的相位，以产生外部相位比较信号Do；(b)比较从由八分仪光电二极管的内部光接收单元接收的信号a2、b2、c2、和d2获得的相加信号a2+c2和b2+d2的相位，以产生内部相位比较信号Di；(c)基于当激光束横过形成盘的轨道时获得的内部和外部相位比较信号Di和Do来检测径向倾斜。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||