内设自测功能的半导体集成电路及装有该电路的系统

摘要

一种内设自测功能的半导体集成电路，包括连接在端子1上的由端口方向寄存器3、端口寄存器4与比较器5构成的输入输出端口，以及连接在端子1上的外围功能块6。在要测试外围功能块6的输出时，在端口寄存器4中设定对于外围功能块6输出的期待值，同时在端口方向寄存器3中设定将输入输出端口设为输入端口的值，将从外围功能块6输出而经由端子1的值和在端口寄存器4中已设定的期待值通过比较器5作比较而进行测试判定。该内设自测功能的半导体集成电路能够对外围功能块6进行自测，并降低测试成本。

主权项

1.一种内设自测功能的半导体集成电路，其特征在于：设有由在物理上或者逻辑上连接于端子的端口方向寄存器、在作为输出端口时存放输出值的端口寄存器、共用该端口寄存器和地址空间的端口输入信号线和比较器构成的可编程输入输出端口，以及在物理上或者逻辑上连接于所述端子的外围功能块；在要对所述外围功能块进行输入时，在所述端口方向寄存器中设定将所述输入输出端口设为输出端口的值，将所述端口寄存器中已设定的值经由所述端子供给该外围功能块；在要对所述外围功能块的输出进行测试时，在所述端口寄存器中设定对于该外围功能块的输出的期待值，同时在所述端口方向寄存器中设定将所述输入输出端口设为输入端口的值，并用所述比较器将从该外围功能块输出并经由所述端子的值和在该端口寄存器中已设定的期待值作比较来进行测试判定。