| 摘要 |
一种带有记忆体装置之积体电路，其测试方法系于积体电路内部传输（i）一位址信号其指示一记忆体位址，（ii）一资料信号其指示该位址之资料，以及（iii）对各记忆体装置传输一各别指令信号，该指令信号指示该资料是否将写至各别记忆体装置。监视由各记忆体装置输出之资料以及至少部分其接收之资料。因资料系于晶片外部产生，故积体电路无须BIST模组来于测试模期间对记忆体装置之全部输入产生确切已知信号。输入记忆体装置之信号以足够准确度监视，若信号系因积体电路上记忆体装置以外之错误导致讹误，将发现该事实，且记忆体装置不致于被不正确地归咎产生该项错误。 |
