发明名称 |
Wafer burn-in test and wafer test circuit |
摘要 |
A wafer burn-in test and a wafer test circuit for a semiconductor memory device which can cut down packaging expenses and improve F/T yield by performing a wafer burn-in test by using a pad for contact in a probe test of a wafer state.
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申请公布号 |
US2003210589(A1) |
申请公布日期 |
2003.11.13 |
申请号 |
US20030412268 |
申请日期 |
2003.04.14 |
申请人 |
HYNIX SEMICONDUCTOR INC. |
发明人 |
SUNG HA MIN |
分类号 |
G11C29/00;G11C29/48;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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