发明名称 利用散射特征改进结构识别的方法
摘要 一种修剪特征和相应的已知结构参数向量的参考库的方法,每个特征包括参考信号向量,该方法包括:对于给定的参考信号向量,对假设将给定的参考信号向量和与其相对应的参数向量从参考库中删除的参数向量进行插值;若对应的参数向量和插值参数向量间的插值误差小于阈值,删除给定的参考信号向量和对应的参数向量。一种访问特征和相应的已知结构参数向量的索引参考库的方法,每个特征包括参考信号向量,所述库还包括多个参考信号索引向量,所述方法包括:计算未知信号的索引向量;确定未知信号的索引向量和库中的参考信号索引向量间的误差;若误差小于预定阈值,将与参考信号索引向量相对应的参考索引信号向量识别为未知信号的匹配候选者。
申请公布号 CN1455900A 申请公布日期 2003.11.12
申请号 CN01815547.2 申请日期 2001.09.13
申请人 安格盛光电科技公司 发明人 理查德·H·克鲁克尔;克里斯托夫·J·雷蒙德;斯科特·R·威尔逊;史蒂夫·W·法勒
分类号 G06F17/00 主分类号 G06F17/00
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 朱进桂
主权项 1.一种修剪特征和对应的已知结构参数向量的参考库的方法,每个所述的特征包括参考信号向量,所述的方法包括以下步骤:对于给定的参考信号向量,对假设将给定的参考信号向量和与其相对应的参数向量从该参考库中删除的参数向量进行插值;和如果对应的参数向量和插值的参数向量之间的插值误差小于阈值,删除给定的参考信号向量和对应的参数向量。
地址 美国俄勒冈州