发明名称 Verfahren zum Testen einer Speichervorrichtung
摘要 Es wird ein Testverfahren einer Speichervorrichtung, die mit einer internen Signalerzeugungseinrichtung ausgerüstet ist, die ein internes Signal mit einem feststehenden Zyklus asynchron zu einem Signal von außerhalb erzeugt, offenbart, bei dem, wenn eine Eingangsinformation eingegeben wird, eine Eingangsschaltungseinrichtung eine Ausgabe erzeugt, wenn entschieden wird, daß die Speichervorrichtung Bedingungen zum Durchführen eines Testes erfüllt, und wenn eine Ausgabe der Eingangsschaltungseinrichtung erzeugt wird und die Speichereinrichtung der Speichervorrichtung in einem Einschreib-Freigabezustand ist, erzeugt eine Gattereinrichtung eine Ausgabe, um eine Puffereinrichtung zu aktivieren, wodurch das interne Signal in die Speichereinrichtung eingeschrieben wird, indem es über die Puffereinrichtung an einen Dateneinschreibeingang der Speichereinrichtung angelegt wird, dann das eingeschriebene Datum aus der Speichereinrichtung ausgelesen wird und die Messung bezüglich des internen Signals durchgeführt wird, um die Datenänderungspunkte zu detektieren.
申请公布号 DE10314225(A1) 申请公布日期 2003.10.30
申请号 DE2003114225 申请日期 2003.03.28
申请人 NEC ELECTRONICS CORP., KAWASAKI 发明人 SHIMOSAKA, TOMOKATSU
分类号 G01R31/28;G11C11/401;G11C29/08;G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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