发明名称 |
Verfahren zur Objekt-Heap-Analyse zum Nachweis von Speicherverlusten und sonstigen Laufzeitinformationen |
摘要 |
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申请公布号 |
DE69813160(T2) |
申请公布日期 |
2003.10.16 |
申请号 |
DE19986013160T |
申请日期 |
1998.11.30 |
申请人 |
SUN MICROSYSTEMS, INC. |
发明人 |
FOOTE, WILLIAM F.;NISEWANGER, JEFFREY D. |
分类号 |
G06F11/28;G06F9/44;G06F11/36;(IPC1-7):G06F11/00 |
主分类号 |
G06F11/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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