发明名称 时脉信号频率验证装置与方法
摘要 本案系为一种时脉信号频率验证装置与方法,应用于一时脉信号源之验证过程中,该装置包含一参考时脉信号与重置信号产生源、一除频器以及一比较侦测器,而其方法包含下列步骤:将该时脉信号源所输出之一待测时脉信号输入至该除频器,该待测时脉信号具有一第一周期T1;因应一重置信号之启动,该除频器开始因应该待测时脉信号之触发而作动,进而输出一双准位之除频后待测信号,该除频后待测信号具有一第二周期T2,而T2/n=T1;因应该参考时脉信号与重置信号产生源所发出之重置信号之启动,每隔一预定时间Ts该比较侦测器侦测该除频后待测信号之信号准位;以及当从第1个时间点至第p-q个时间点上所侦测到之该除频后待测信号处于一第一准位,且于第p+1个时间点上所侦测到之该除频后待测信号之信号准位处于一第二准位时,判断该时脉信号源为正常工作且得出该待测时脉信号之周期误差范围Te。
申请公布号 TW555979 申请公布日期 2003.10.01
申请号 TW091116628 申请日期 2002.07.25
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 席振华;吴政原;翁志贤
分类号 G01R23/02 主分类号 G01R23/02
代理机构 代理人 王丽茹 台北市内湖区瑞光路五八三巷二十四号七楼;曾国轩 台北市内湖区瑞光路五八三巷二十四号七楼
主权项 1.一种时脉信号频率验证方法,应用于一时脉信号源之验证过程中,其方法包含下列步骤:将该时脉信号源所输出之一待测时脉信号输入至一除频器,该待测时脉信号具有一第一周期T1;因应一重置信号之启动,该除频器开始因应该待测时脉信号之触发而作动,进而输出一双准位之除频后待测信号,该除频后待测信号具有一第二周期T2,而T2/n=T1;因应该重置信号之启动,每隔一预定时间Ts侦测该除频后待测信号之信号准位;以及当从第1个时间点至第p-q个时间点上所侦测到之该除频后待测信号处于一第一准位,且于第p+1个时间点上所侦测到之该除频后待测信号之信号准位处于一第二准位时,判断该时脉信号源为正常工作且得出该待测时脉信号之周期误差范围Te。2.如申请专利范围第1项所述之时脉信号频率验证方法,其中p=(T2/(2Ts)),q=(T1/Ts),Te=(q+(1/2))*Ts/(n/2)。3.如申请专利范围第1项所述之时脉信号频率验证方法,其中更包含下列步骤:当持续侦测算2p-q个时间点与第2p+1个时间点、第3p-q个时间点与第3p+1个时间点、…以及第mp-q个时间点与第mp+1个时间点上之该除频后待测信号之信号准位,而该时脉信号源皆被判断为正常工作时,该待测时脉信号之周期误差范围Te=(q+(1/2))*Ts/(m* n/2)。4.如申请专利范围第3项所述之时脉信号频率验证方法,其中该预定时间Ts系由一参考时脉信号之上升缘所决定,而该重置信号之变化缘系与该参考时脉信号之下降缘对齐,至于该周期误差范围Te=(q+(1/2))*Ts/(m* n/2)。5.如申请专利范围第1项所述之时脉信号频率验证方法,其中当从第1个时间点至第p-q个时间点上所侦测到之该除频后待测信号非皆处于该第一准位,或于第p+1个时间点上所侦测到之该除频后待测信号之信号准位非处于该第二准位时,则判断该时脉信号源为非正常工作。6.一种时脉信号频率验证装置,应用于验证一时脉信号源之准确度,其系配合一参考时脉信号与重置信号产生源进行动作,参考时脉信号与重置信号产生源系产生一参考时脉信号以及一重置信号,且该参考时脉信号具有一预定周期Ts;而该验证装置包含:一除频器,电连接于该时脉信号源与该参考时脉信号与重置信号产生源,其系接收该时脉信号源所输出之一待测时脉信号,并因应该重置信号之启动,而开始因应该待测时脉信号之触发而作动,进而输出一双准位之除频后待测信号,其中该待测时脉信号具有一第一周期T1,该除频后待测信号具有一第二周期T2,而T2/n=T1;以及一比较侦测器,电连接于该除频器与该参考时脉信号与重置信号产生源,其系因应该重置信号之启动与该参考时脉信号之触发,每隔该预定周期Ts便侦测该除频后待测信号之信号准位,而当从第1个时间点至第p-q个时间点上所侦测到之该除频后待测信号处于一第一准位,且于第p+1个时间点上所侦测到之该除频后待测信号之信号准位处于一第二准位时,输出一工作正常信号并可得出该待测时脉信号之周期误差范围Te。7.如申请专利范围第6项所述之时脉信号频率验证装置,其中p=(T2/(2Ts)),q=(T1/Ts),Te=(q+(1/2))*Ts/(n/2)。8.如申请专利范围第7项所述之时脉信号频率验证装置,其中当侦测第2p-q个时间点与第2p+1个时间点、第3p-q个时间点与第3p+1个时间点、…以及第mp-q个时间点与第mp+1个时间点上之该除频后待测信号之信号准位时,该比较侦测器持续输出一工作正常信号时,代表该待测时脉信号之周期误差范围Te=(q+(1/2))*Ts/(m* n/2)。9.如申请专利范围第8项所述之时脉信号频率验证装置,其中该侦测时间点系为该参考时脉信号之上升缘,而该重置信号之变化缘系与该参考时脉信号之下降缘对齐,至于该周期误差范围Te=(q+(1/2))*Ts/(m* n/2)。10.如申请专利范围第6项所述之时脉信号频率验证装置,其中该除频器、该比较侦测器以及该时脉信号源系整合于同一晶片上。11.如申请专利范围第6项所述之时脉信号频率验证装置,其中当从第1个时间点至第p-q个时间点上所侦测到之该除频后待测信号非皆处于该第一准位,或于第p+1个时间点上所侦测到之该除频后待测信号之信号准位非处于该第二准位时,输出一错误信号。12.如申请专利范围第11项所述之时脉信号频率验证装置,其中当输出该错误信号,系代表该待测时脉信号之周期误差范围Te必大于(1/2)*Ts/(n/2)。图式简单说明:第一图:其系对时脉信号源执行测试验证动作之习用测试装置之方块示意图。第二图:其系本案对于时脉信号频率验证装置所发展出之一较佳实施例方块示意图。第三图:其系对上述技术手段举出一实例进行说明之相关信号波形示意图。
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