| 发明名称 | 搭载在图像读取装置和图像形成装置上的光学装置的诊断方法 | ||
| 摘要 | 光学装置的诊断方法根据对应于设置在指定的位置的调整用标志(212)读取1个扫描行而得到的各像素位置的输出电平的输出特性，检测所读取的扫描行与调整用标志(212)的各线段(212a、212b、212c)的交点(213a、213b、213c)的位置和该交点的输出电平。将这些值与指定的值进行比较，检测起因于光学装置的安装位置的偏离。 | ||
| 申请公布号 | CN1122888C | 申请公布日期 | 2003.10.01 |
| 申请号 | CN99118387.8 | 申请日期 | 1999.09.03 |
| 申请人 | 东芝泰格有限公司;株式会社东芝 | 发明人 | 上诹访吉克 |
| 分类号 | G03G21/00 | 主分类号 | G03G21/00 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 于静 |
| 主权项 | 1.一种光学装置的诊断方法，其特征在于：在具有与主扫描方向的扫描行的各像素对应地配置的将原稿(D)的反射光进行光电变换的多个光电变换元件(23)的光学装置(OP)中，包括：对由与主扫描方向处的第1直线(212a)和与该第1直线成锐角的1组平行的第2、第3直线(212b、212c)构成的图形(212)，利用相隔指定的距离相对配置的光学装置的光电变换元件沿指定的扫描行读取上述图形的第1步骤；根据沿扫描行读取上述图形时得到的输出信号检测上述图形的各线与上述扫描行相交的第1、第2和第3交点(213a、213b、213c)的位置和各交点的信号的输出电平(Ia、Ib、Ic)的第2步骤；和通过将检测的交点的位置和各交点的信号的输出电平与指定的交点的位置和各交点的信号的预定输出电平进行比较而检测起因于光学装置的安装位置的偏离的第3步骤。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||