发明名称 高功率纳秒强流放电回路中分布电感的测试方法
摘要 一种高功率纳秒强流放电回路中分布电感的测量方法,它包括以下过程:在一设定电压V<SUB>b1</SUB>下,测量待测回路分布电感中的脉冲放电电压波形和电流波形;在另一设定电压V<SUB>b2</SUB>下,再测该放电回路中的电压波形及电流波形;从测定的放电电流脉冲图形上,求出设定电压为V<SUB>b1</SUB>时的峰值电流i<SUB>1</SUB>(即sinωτ<SUB>1</SUB>=1的条件);从测定的放电电流脉冲图形上,求出设定电压为V<SUB>b2</SUB>时的峰值电流i<SUB>2</SUB>(即sinωτ<SUB>2</SUB>=1的条件);将测得的V<SUB>b1</SUB>、V<SUB>b2</SUB>、i<SUB>1</SUB>、i<SUB>2</SUB>、τ<SUB>1</SUB>、τ<SUB>2</SUB>代入方程即可求得总回路中分布电感的L值。
申请公布号 CN1442698A 申请公布日期 2003.09.17
申请号 CN03116341.6 申请日期 2003.04.11
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 陈建文;高鸿奕;谢红兰;徐至展;熊诗圣
分类号 G01R27/26;G01R27/04 主分类号 G01R27/26
代理机构 上海新天专利代理有限公司 代理人 张泽纯
主权项 1、一种高功率纳秒强流放电回路中分布电感的测量方法,其特征在于它分以下5个过程:①在一设定电压Vb1下,测量待测回路分布电感中的脉冲放电电压波形和电流波形;②在另一设定电压Vb2下,再测该放电回路中的电压波形及电流波形;③从测定的放电电流脉冲图形上,求出设定电压为Vb1时的峰值电流i1(即sinωτ1=1的条件);④从测定的放电电流脉冲图形上,求出设定电压为Vb2时的峰值电流i2(即sinωτ2=1的条件);⑤将测得的Vb1、Vb2、i1、i2、τ1、τ2代入方程<math> <mrow> <mi>L</mi> <mo>=</mo> <msup> <mrow> <mo>[</mo> <mfrac> <mrow> <mn>2</mn> <msub> <mi>V</mi> <mrow> <mi>b</mi> <mn>2</mn> </mrow> </msub> </mrow> <mrow> <mi>&pi;</mi> <msub> <mi>i</mi> <mn>2</mn> </msub> </mrow> </mfrac> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <mfrac> <msub> <mi>&pi;i</mi> <mn>1</mn> </msub> <mrow> <msub> <mrow> <mn>2</mn> <mi>V</mi> </mrow> <mrow> <mi>b</mi> <mn>1</mn> </mrow> </msub> <msub> <mi>&tau;</mi> <mn>1</mn> </msub> </mrow> </mfrac> <mo>)</mo> </mrow> <mrow> <msub> <mi>&tau;</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>/</mo> <msub> <mi>&tau;</mi> <mn>1</mn> </msub> </mrow> </msup> <mi>sin</mi> <mfrac> <msub> <mi>&tau;</mi> <mn>1</mn> </msub> <msub> <mi>&tau;</mi> <mn>1</mn> </msub> </mfrac> <mfrac> <mi>&pi;</mi> <mn>2</mn> </mfrac> <mo>]</mo> </mrow> <mrow> <msub> <mi>&tau;</mi> <mn>1</mn> </msub> <mo>/</mo> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>&tau;</mi> <mn>1</mn> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>&tau;</mi> <mn>2</mn> </msub> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> </msup> </mrow> </math> 即可求得总回路中分布电感的L值。
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