发明名称 X-RAY INSPECTION SYSTEM AND METHOD
摘要 <p>L'invention concerne un système de contrôle aux rayons X, selon lequel un absorbeur de rayons X faible pénétration est placé en amont d'un objet à examiner, de manière à éliminer les rayons X à faible énergie, généralement inférieure à 0,5 MeV. L'absorbeur peut être une feuille de plomb de 10 mm d'épaisseur. Le système de contrôle aux rayons X comprend un détecteur reposant sur l'effet en cascade électromagnétique produit dans des matériaux appropriés lorsqu'ils sont bombardés par des rayons X, de telle façon que l'énergie soit transférée dans le matériau, à différentes épaisseurs, en fonction de l'énergie des rayons X incidents. Le premier composant que les rayons X viennent frapper comprend un cristal relativement mince, et le bruit de fond indésirable peut être réduit en disposant un récipient contenant un fluide dont la densité est inférieure à celle de l'air, en face de la rangée de cristaux détecteurs. Le fluide est généralement l'hélium sous la pression atmosphérique ou à une pression légèrement supérieure à la pression atmosphérique. Le bruit de fond peut être réduit en appliquant un champ magnétique dans la région se trouvant en face de la rangée de cristaux détecteurs de manière à expulser par balayage les électrons de cette région.</p>
申请公布号 WO2003065023(P1) 申请公布日期 2003.08.07
申请号 GB2002000353 申请日期 2002.01.28
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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