发明名称 Electrical circuit and method for testing a component of the electrical circuit
摘要
申请公布号 EP1132750(A3) 申请公布日期 2003.07.02
申请号 EP20000128175 申请日期 2000.12.21
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 PLAETTNER, ECKEHARD;TAEUBER, ANDREAS;NYGREN, AARON
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/318;G01R31/317;G06F11/267 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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