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Die Erfindung betrifft ein abbildendes FTIR-Spektrometer, bei dem Interferometer und Probe und Detektor im Spekttrometergehäuse angeordnet sind und das Licht der Quelle zunächst das Interferomter durchläuft, dann auf die Probe fokussiert wird, die anschließend auf die Oberfläche eines Detektorarrays abgebildet wird. Die Erfindung betrifft auch ein FTIR-Spektrometer mit einem Detektorarray, auf dessen Chip ADCs integriert sind, derart, dass jedem Pixel ein ADC zugeordnet ist.
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