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发明名称 A MEMORY MODULE TEST SYSTEM WITH REDUCED DRIVER OUTPUT IMPEDANCE
摘要
申请公布号 EP1208568(B1) 申请公布日期 2003.04.23
申请号 EP20000957543 申请日期 2000.08.17
申请人 SUN MICROSYSTEMS, INC. 发明人 TRAN, DONG;JEFFREY, DAVID;KROW-LUCAL, STEVEN, C.
分类号 G01R31/28;G01R31/319;G06F12/16;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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