发明名称 METHOD FOR THE PRODUCTION OF A SELF-ADJUSTED STRUCTURE ON A SEMICONDUCTOR WAFER
摘要 <p>Eine Struktur auf einer Schichtenoberfläche des Halbleiter-Wafers weist zumindest einen für elektromagnetische Strahlung reflektierenden ersten Flächenbereich (8,9) und zumindest einen zweiten, im Wesentlichen nicht reflektierenden Flächenbereich (10,11,12) auf. Auf diese Schichtenoberfläche wird eine lichtdurchläßige Isolationsschicht (13) und eine lichtempfindliche Schicht erzeugt. Die elektromagnetische Strahlung wird mit einem Einfallswinkel θ auf die lichtempfindliche Schicht gerichtet und die Struktur der Schichtenoberfläche mit einem lateralen Ersatz in die lichtempfindliche Schicht abgebildet.</p>
申请公布号 WO2003017342(A2) 申请公布日期 2003.02.27
申请号 DE2002002651 申请日期 2002.07.18
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
地址