| 主权项 |
1.一种用于在多重通道系统中测量特征之方法,其包含下列步骤:由一个波长分割多工系统接收从一来源而来之复数个调变讯号;选择一个第一及一个第二讯号;及测量该第一讯号之转变及该第二讯号之转变之间之延迟,以决定系统之特征。2.根据申请专利范围第1项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该第二讯号包含两个或更多个讯号。3.根据申请专利范围第1项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤系包含下列步骤:(1)测量一个第一讯号及其本身之转变之间的延迟;(2)测量一个第一讯号之转变及该两个或更多个第二讯号之每一个之转变之间的延迟;(3)重复上述步骤1及步骤2,其中,该第一讯号系包含该两个或更多个第二讯号之每一个;(4)根据上述步骤1及步骤2之测量,产生一个矩阵;及(5)分析该矩阵,以决定系统之特征。4.根据申请专利范围第1项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该分析的步骤系包含分析该矩阵之元素之间之关系。5.根据申请专利范围第3项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该矩阵包含确定性的抖动値。6.根据申请专利范围第3项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该矩阵包含随机的抖动値。7.根据申请专利范围第3项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该矩阵包含数量上的测量。8.根据申请专利范围第3项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该矩阵包含品质上的测量。9.根据申请专利范围第1项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该讯号系包含通道,且该方法系进一步包含根据系统之特征而确认一不良之通道的步骤。10.根据申请专利范围第9项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其进一步包含根据确认该不良之通道而实施一个校正之行动之步骤。11.根据申请专利范围第10项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该校正之行动系由下列群组中选择出:关闭不良通道,连接不良通道至另一个通道,及送出一个操作者的通知。12.根据申请专利范围第1项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤包含:测量该些讯号之一及相对于一临限电压之其他讯号之一之转变之间的延迟之步骤。13.根据申请专利范围第1项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该系统之特征系由下列群组中选择出:通道频率损失、激励之雷曼散射(Stimulated Raman Scattering)、激励之布利落英散射(Stimulated Brillouin Scattering)、四波混合、一光源之讯号劣化、光源鸣声、分散性补偿漂移及温度漂移。14.一种用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,该波长分割多工系统系具有复数个讯号,该波长分割多工系统系连接至一具有二或更多个波长之调变光源,该系统包含:一个开关,其用于选择该复数个讯号中之两个或更多个讯号;及一个时域光分析器,其用于测量该复数个讯号中之一个及其他讯号中之超过一个之讯号之间之延迟,以决定系统之特征。15.根据申请专利范围第14项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该时域分析器包含:(1)测量一个第一讯号及其本身之转变之间之延迟的电路;(2)测量一个第一讯号之转变及许多其他讯号的每一个之转变之间的延迟的电路;(3)一个于一电脑程控制下之微处理器,其对于该许多讯号之每一个重复步骤(1)及(2);(4)一个于一电脑程控制下之微处理器,其根据步骤(1)及(2)之测量而产生一个矩阵;及(5)一个于一电脑程控制下之微处理器,其分析该矩阵,以决定系统之特征。16.根据申请专利范围第15项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该电脑程式系分析该矩阵元素之间之关系。17.根据申请专利范围第15项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含确定性的抖动値。18.根据申请专利范围第15项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含随机的抖动値。19.根据申请专利范围第15项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含数量上的测量。20.根据申请专利范围第15项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含品质上的测量。21.根据申请专利范围第15项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该些讯号系包含复数个通道,其中,该时域光分析器根据系统之特征而确认一不良之通道。22.根据申请专利范围第20项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该时域光分析器根据确认该不良之通道而实施一个校正之行动。23.根据申请专利范围第22项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该校正之行动系由下列群组中选择出:关闭不良通道,连接不良通道至另一个通道,及送出一个操作者的通知。24.根据申请专利范围第14项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该系统之特征系由下列群组中选择出:通道频率损失、激励之雷曼散射(Stimulated Raman Scattering)、激励之布利落英散射(Stimulated Brillouin Scattering)、四波混合、一光源之讯号劣化、光源鸣声、分散性补偿漂移及温度漂移。25.根据申请专利范围第14项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该时域光分析器包含接收该些讯号之电压补偿器。26.一种用于在多重通道系统中测量特征之方法,其包含下列步骤:由一个频率分割多工系统接收从一来源而来之复数个调变讯号;选择一个第一及一个第二讯号;及测量该第一讯号之转变及该第二讯号之转变之间之延迟,以决定系统之特征。27.根据申请专利范围第26项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该第二讯号包含两个或更多个讯号。28.根据申请专利范围第27项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤系包含下列步骤:(1)测量一个第一讯号及其本身之转变之间的延迟;(2)测量一个第一讯号之转变及该两个或更多个第二讯号之每一个之转变之间的延迟;(3)重复上述步骤1及步骤2,其中,该第一讯号系包含该两个或更多个第二讯号之每一个;(4)根据上述步骤1及步骤2之测量,产生一个矩阵;及(5)分析该矩阵,以决定系统之特征。29.根据申请专利范围第28项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该分析的步骤系包含分析该矩阵之元素之间之关系。30.根据申请专利范围第28项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该矩阵包含确定性的抖动値。31.根据申请专利范围第28项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该矩阵包含随机的抖动値。32.根据申请专利范围第28项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该矩阵包含数量上的测量。33.根据申请专利范围第28项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该矩阵包含品质上的测量。34.根据申请专利范围第27项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该讯号系包含通道,且该方法系进一步包含根据系统之特征而确认一不良之通道的步骤。35.根据申请专利范围第32项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其进一步包含根据确认该不良之通道而实施一个校正之行动之步骤。36.根据申请专利范围第35项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该校正之行动系由下列群组中选择出:关闭不良通道,连接不良通道至另一个通道,及送出一个操作者的通知。37.根据申请专利范围第27项之用于在多重通道系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤包含:测量该些讯号之一及相对于一临限电压之其他讯号之一之转变之间的延迟之步骤。38.一种用于在多重通道系统中测量特征之系统,该多重通道系统系包含一调变讯号源,该调变讯号源具有两个或更多个频率,其系连接至一个具有复数个讯号之频率分割多工系统,该系统包含:一个开关,其用于选择该复数个讯号中超过一个之讯号;及一个时域光分析器,其用于测量该复数个讯号中之一个及其他讯号中之超过一个之讯号之间之延迟,以决定系统之特征。39.根据申请专利范围第38项之用于在多重通道系统中测量特征之系统,其中,该时域分析器包含:(1)测量一个第一讯号及其本身之转变之间之延迟的电路;(2)测量一个第一讯号之转变及许多其他讯号的每一个之转变之间的延迟的电路;(3)一个于一电脑程控制下之微处理器,其对于该许多讯号之每一个重复步骤(1)及(2);(4)一个于一电脑程控制下之微处理器,其根据步骤(1)及(2)之测量而产生一个矩阵;及(5)一个于一电脑程控制下之微处理器,其分析该矩阵,以决定系统之特征。40.根据申请专利范围第39项之用于在多重通道系统中测量特征之系统,其中,该电脑程式系分析该矩阵元素之间之关系。41.根据申请专利范围第40项之用于在多重通道系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含确定性的抖动値。42.根据申请专利范围第41项之用于在多重通道系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含随机的抖动値。43.根据申请专利范围第40项之用于在多重通道系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含数量上的测量。44.根据申请专利范围第40项之用于在多重通道系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含品质上的测量。45.根据申请专利范围第40项之用于在多重通道系统中测量特征之系统,其中,该时域光分析器根据系统之特征而确认一不良之通道。46.根据申请专利范围第45项之用于在多重通道系统中测量特征之系统,其中,该时域光分析器根据确认该不良之通道而实施一个校正之行动。47.根据申请专利范围第46项之用于在多重通道系统中测量特征之系统,其中,该校正之行动系由下列群组中选择出:关闭不良通道,连接不良通道至另一个通道,及送出一个操作者的通知。48.根据申请专利范围第38项之用于在多重通道系统中测量特征之系统,其中,该时域光分析器包含接收该些讯号之电压补偿器。49.一种用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,该波长分割多工系统系具有复数个讯号,该波长分割多工系统系连接至一具有二或更多个波长之调变光源,该系统包含:一个装置,其用于选择该复数个讯号中之两个或更多个讯号;及一个时域光分析器,其用于测量该复数个讯号中之一个及其他讯号中之超过一个之讯号之间之延迟,以决定系统之特征。50.根据申请专利范围第49项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该时域分析器包含:(1)测量一个第一讯号及其本身之转变之间之延迟的电路;(2)测量一个第一讯号之转变及许多其他讯号的每一个之转变之间的延迟的电路;(3)一个装置,其用于对于该许多讯号之每一个重复上述步骤(1)及(2);(4)一个装置,其用于根据步骤(1)及(2)之测量而产生一个矩阵;及(5)一个装置,其用于分析该矩阵,以决定系统之特征。51.根据申请专利范围第49项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该分析装置分析该矩阵元素之间之关系。52.根据申请专利范围第50项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含确定性的抖动値。53.根据申请专利范围第50项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含随机的抖动値。54.根据申请专利范围第50项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含数量上的测量。55.根据申请专利范围第50项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该矩阵包含品质上的测量。56.根据申请专利范围第50项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该些讯号系包含复数个通道,其中,该时域光分析器包含一个用于根据系统之特征而确认一不良之通道之装置。57.根据申请专利范围第56项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该时域光分析器包含一个用于根据确认该不良之通道而实施一个校正之行动之装置。58.根据申请专利范围第57项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该校正之行动系由下列群组中选择出:关闭不良通道,连接不良通道至另一个通道,及送出一个操作者的通知。59.根据申请专利范围第49项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该系统之特征系由下列群组中选择出:通道频率损失、激励之雷曼散射(Stimulated Raman Scattering)、激励之布利落英散射(Stimulated Brillouin Scattering)、四波混合、一光源之讯号劣化、光源鸣声、分散性补偿漂移及温度漂移。60.根据申请专利范围第49项之用于在波长分割多工系统中测量特征之系统,其中,该时域光分析器包含接收该些讯号之电压补偿器。图式简单说明:第1a图系图示一个典型的光纤系统/元件测试的结构;第1b图系图示另一个典型的光纤系统/元件测试的结构;第2a图系图示根据本发明之一个光纤系统/元件测试的结构之一个实施例;第2b图系图示根据本发明之另一个光纤系统/元件测试的结构之一个实施例;第3图系图示根据本发明之一个实施例的用于一光分析器之例示的硬体环境;第4图系说明一个用于密集波长分割多工特征化及测试的系统;第5图系说明一个典型的密集波长分割多工系统;及第6A至6C图系说明根据本发明之一个实施例的矩阵。 |
