| 发明名称 |
High speed wafer level test of a semiconductor memory device |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
GB2373906(A) |
申请公布日期 |
2002.10.02 |
| 申请号 |
GB20010029958 |
申请日期 |
2001.12.14 |
| 申请人 |
* HYNIX SEMICONDUCTOR INC |
发明人 |
JAI JIN * LEE |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C7/22;G11C11/401;G11C29/00;G11C29/12;G11C29/14;G11C29/48;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
